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文献
J-GLOBAL ID：201702254345110395
整理番号：17A1557685
低対称性結晶多相材料におけるナノロッドの高さと幅を推定するためのX線回折解析の適用【Powered by NICT】
Applying the X-ray diffraction analysis for estimating the height and width of nanorods in low symmetry crystal multiphase materials
Mokhtari Ali
(Department of Physics, Faculty of Sciences, Shahrekord University, P.O. Box 115, Shahrekord, Iran)
,
Soleimanian Vishtasb
(Department of Physics, Faculty of Sciences, Shahrekord University, P.O. Box 115, Shahrekord, Iran)
,
Dehkordi Hamed Aleebrahim
(Department of Physics, Faculty of Sciences, Shahrekord University, P.O. Box 115, Shahrekord, Iran)
,
Dastafkan Kamran
(Solid State Nanomaterials Research Group, Research Center for Nanotechnology, KAVA Research Institute (KRI), Tehran, Iran)
資料名：
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻： 478 ページ： 58-63 発行年： 2017年
JST資料番号： B0942A ISSN： 0022-0248 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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