文献
J-GLOBAL ID:201702254389833077
整理番号:17A1727243
デバイスモデリングにおける物理的問題:長さスケール,無秩序および相干渉【Powered by NICT】
Physical issues in device modeling: Length-scale, disorder, and phase interference
著者 (1件):
Sano Nobuyuki
(Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
SISPAD
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)