文献
J-GLOBAL ID:201702254473473841
整理番号:17A0882117
DiaSys:オンチップ診断によるSoC洞察【Powered by NICT】
DiaSys: Improving SoC insight through on-chip diagnosis
著者 (3件):
Wagner Philipp
(Institute for Integrated Systems, Technical University of Munich, Arcisstrasse 21, 80333 Munich, Germany)
,
Wild Thomas
(Institute for Integrated Systems, Technical University of Munich, Arcisstrasse 21, 80333 Munich, Germany)
,
Herkersdorf Andreas
(Institute for Integrated Systems, Technical University of Munich, Arcisstrasse 21, 80333 Munich, Germany)
資料名:
Journal of Systems Architecture
(Journal of Systems Architecture)
巻:
75
ページ:
120-132
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0883A
ISSN:
1383-7621
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)