文献
J-GLOBAL ID:201702254779557851
整理番号:17A1570397
電界放出電子顕微鏡開発と陰極放射率【Powered by NICT】
Field-emission electron microscope development and cathode emittance
著者 (3件):
Enderich D.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin, USA)
,
Booske J.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin, USA)
,
Behdad N.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IVNC
ページ:
260-261
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)