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文献
J-GLOBAL ID：201702254925286036
整理番号：17A1718991
hERGゲート開閉電荷の高速成分:S1及びS4残基におけるD411間の相互作用【Powered by NICT】
The Fast Component of hERG Gating Charge: An Interaction between D411 in the S1 and S4 Residues
Dou Ying
(Department of Anesthesiology, Pharmacology and Therapeutics, University of British Columbia, Vancouver, British Columbia, Canada)
,
Macdonald Logan C.
(Department of Anesthesiology, Pharmacology and Therapeutics, University of British Columbia, Vancouver, British Columbia, Canada)
,
Wu Yue
(Department of Anesthesiology, Pharmacology and Therapeutics, University of British Columbia, Vancouver, British Columbia, Canada)
,
Fedida David
(Department of Anesthesiology, Pharmacology and Therapeutics, University of British Columbia, Vancouver, British Columbia, Canada)
資料名：
Biophysical Journal
(Biophysical Journal)
巻： 113 号： 9 ページ： 1979-1991 発行年： 2017年
JST資料番号： B0298A ISSN： 0006-3495 CODEN： BIOJAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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