文献
J-GLOBAL ID:201702255262306152
整理番号:17A1727505
高速走査サイクリックボルタンメトリーのためのベースラインドリフトトレンド除去技術【Powered by NICT】
A baseline drift detrending technique for fast scan cyclic voltammetry
著者 (10件):
DeWaele Mark
(Department of Biomedical Engineering, Hanyang University, Seoul, Korea. dongpjang@hanyang.ac.kr)
,
Oh Yoonbae
,
Park Cheonho
,
Kang Yu Min
,
Shin Hojin
,
Blaha Charles D.
,
Bennet Kevin E.
,
Kim In Young
,
Lee Kendall H.
,
Jang Dong Pyo
資料名:
Analyst
(Analyst)
巻:
142
号:
22
ページ:
4317-4321
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0392A
ISSN:
0003-2654
CODEN:
ANALAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)