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文献
J-GLOBAL ID：201702255277447562
整理番号：17A1547000
二次元材料を用いた電子顕微鏡のプローブ形成システムの収差測定【Powered by NICT】
Aberration measurement of the probe-forming system of an electron microscope using two-dimensional materials
Sawada Hidetaka
(Electron Physical Sciences Imaging Centre (ePSIC), Diamond Light Source Ltd, Didcot, Oxford OX11 0DE, UK)
,
Sawada Hidetaka
(Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK)
,
Sawada Hidetaka
(JEOL UK Ltd., Silver Court Watchmead Welwyn Garden City, Herts AL7 1LT, UK)
,
Sawada Hidetaka
(Research acceleration program, Japan Science and Technology Agency, K’s Gobancho, 7, Gobancho, Chiyoda-ku, Tokyo 102-0076, Japan)
,
Allen Christopher S.
(Electron Physical Sciences Imaging Centre (ePSIC), Diamond Light Source Ltd, Didcot, Oxford OX11 0DE, UK)
,
Allen Christopher S.
(Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK)
,
Wang Shanshan
(Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK)
,
Warner Jamie H.
(Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK)
,
Kirkland Angus I.
(Electron Physical Sciences Imaging Centre (ePSIC), Diamond Light Source Ltd, Didcot, Oxford OX11 0DE, UK)
,
Kirkland Angus I.
(Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK)
資料名：
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻： 182 ページ： 195-204 発行年： 2017年
JST資料番号： W0972A ISSN： 0304-3991 CODEN： ULTRD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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