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文献
J-GLOBAL ID：201702255319197985
整理番号：17A0322803
温度スペクトル密度分布に基づく状態評価法とIGBTの応用【Powered by NICT】
A temperature spectrum density distribution based condition evaluation method and application in IGBT
Gao Bing
(State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, School of Electrical Engineering, Chongqing University, Chongqing 400044, China)
,
Yang Fan
(State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, School of Electrical Engineering, Chongqing University, Chongqing 400044, China)
,
Chen Minyou
(State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, School of Electrical Engineering, Chongqing University, Chongqing 400044, China)
,
Dong Manling
(State Grid Henan Electric Power Corporation Research Institute, Zhengzhou 450052, Henan Province, China)
,
Duan Pan
(State Grid Chongqing Power Company, South Bank Bureau, Chongqing 404100, China)
,
Irfan Ullah
(State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, School of Electrical Engineering, Chongqing University, Chongqing 400044, China)
資料名：
Applied Thermal Engineering
(Applied Thermal Engineering)
巻： 106 ページ： 1440-1457 発行年： 2016年
JST資料番号： E0667B ISSN： 1359-4311 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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