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J-GLOBAL ID:201702255428477109   整理番号:17A0474617

異なる環境温度下における低温赤外結像系の内部迷光放射を測定する方法【Powered by NICT】

A method to measure internal stray radiation of cryogenic infrared imaging systems under various ambient temperatures
著者 (7件):
Tian Qijie
(Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun, Jilin 130033, China)
Tian Qijie
(University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China)
Chang Songtao
(Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun, Jilin 130033, China)
Li Zhou
(Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun, Jilin 130033, China)
Li Zhou
(University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China)
He Fengyun
(Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun, Jilin 130033, China)
Qiao Yanfeng
(Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun, Jilin 130033, China)

資料名:
Infrared Physics & Technology  (Infrared Physics & Technology)

巻: 81  ページ: 1-6  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0184A  ISSN: 1350-4495  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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