文献
J-GLOBAL ID:201702255758186979
整理番号:17A1498814
グリッドの幅のためのサブピクセル測定システムと改良された部分領域効果に基づく期間【Powered by NICT】
Sub-pixel measurement system for grid’s width and period based on an improved partial area effect
著者 (2件):
Zhu Feijia
(Institute of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China)
,
Jin Peng
(Institute of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China)
資料名:
Optics Communications
(Optics Communications)
巻:
404
ページ:
124-131
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0678B
ISSN:
0030-4018
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)