文献
J-GLOBAL ID:201702255868675750
整理番号:17A0964794
スパースデコンボリューションを用いた多層構造のテラヘルツ超解像層位学的特性化【Powered by NICT】
Terahertz Superresolution Stratigraphic Characterization of Multilayered Structures Using Sparse Deconvolution
著者 (4件):
Dong Junliang
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
,
Wu Xiaolong
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
,
Locquet Alexandre
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
,
Citrin David S.
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
(IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology)
巻:
7
号:
3
ページ:
260-267
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2304A
ISSN:
2156-342X
CODEN:
ITTSBX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)