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文献
J-GLOBAL ID:201702255868675750   整理番号:17A0964794

スパースデコンボリューションを用いた多層構造のテラヘルツ超解像層位学的特性化【Powered by NICT】

Terahertz Superresolution Stratigraphic Characterization of Multilayered Structures Using Sparse Deconvolution
著者 (4件):
Dong Junliang
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
Wu Xiaolong
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
Locquet Alexandre
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
Citrin David S.
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)

資料名:
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology  (IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology)

巻:号:ページ: 260-267  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2304A  ISSN: 2156-342X  CODEN: ITTSBX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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