文献
J-GLOBAL ID:201702256058250035
整理番号:17A1554250
電気インピーダンストモグラフィーアルゴリズムのための計量汎用雑音性能【Powered by NICT】
A Versatile Noise Performance Metric for Electrical Impedance Tomography Algorithms
著者 (5件):
Braun Fabian
(Systems Division, Centre Suisse d’Electronique et de Microtechnique, Neucha^tel, Switzerland)
,
Proenca Martin
(Systems Division, Centre Suisse d’Electronique et de Microtechnique)
,
Sola Josep
(Systems Division, Swiss Center for Electronics and Microtechnology)
,
Thiran Jean-Philippe
(Signal Processing Laboratory, Ecole Polytechnique Federale de Lausanne)
,
Adler Andy
(Systems and Computer EngineeringCarleton University)
資料名:
IEEE Transactions on Biomedical Engineering
(IEEE Transactions on Biomedical Engineering)
巻:
64
号:
10
ページ:
2321-2330
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0236A
ISSN:
0018-9294
CODEN:
IEBEAX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)