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文献
J-GLOBAL ID：201702256087751314
整理番号：17A0445120
セラミックマルチフェロイックBiFeO_3上のBa原子層堆積の軟X線光電子放出分光法【Powered by NICT】
Soft x-ray photoemission spectroscopy of the Ba atomic layer deposition on the ceramic multiferroic BiFeO3
Benemanskaya G.V.
(Ioffe Institute, Politekhnicheskaya str. 26, St. Petersburg, 194021, Russia)
,
Dementev P.A.
(Ioffe Institute, Politekhnicheskaya str. 26, St. Petersburg, 194021, Russia)
,
Lapushkin M.N.
(Ioffe Institute, Politekhnicheskaya str. 26, St. Petersburg, 194021, Russia)
,
Timoshnev S.N.
(St Petersburg Academic University, Khlopina str.8/3, St. Petersburg, 194021, Russia)
,
Senkovskiy B.
(Helmholts-Zentrum Berlin, Elektronenspeicherring BESSY II, Albert-Einstein-Strasse 15, D-12489 Berlin, Germany)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 400 ページ： 172-175 発行年： 2017年
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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