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文献
J-GLOBAL ID：201702256619485907
整理番号：17A0539982
最新のミクロとナノエレクトロメカニカルシステム(MとNEMs)における放射線効果の研究
The study of radiation effects in emerging micro and nano electro mechanical systems (M and NEMs)
ARUTT Charles N
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
ALLES Michael L
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
LIAO Wenjun
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
GONG Huiqi
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
DAVIDSON Jim L
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
SCHRIMPF Ronald D
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
REED Robert A
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
WELLER Robert A
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
BOLOTIN Kirill
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
NICHOLL Ryan
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
PHAM Thang Toan
(Univ. California at Berkeley, CA, USA)
,
ZETTL Alex
(Univ. California at Berkeley, CA, USA)
,
QINGYANG Du
(Massachusetts Inst. of Technol., MA, USA)
,
HU Juejun
(Massachusetts Inst. of Technol., MA, USA)
,
LI Mo
(Univ. Minnesota, MN, USA)
,
ALPHENAAR Bruce W
(Univ. Louisville, KY, USA)
,
LIN Ji-Tzuoh
(Univ. Louisville, KY, USA)
,
SHURVA Pranoy Deb
(Univ. Louisville, KY, USA)
,
MCNAMARA Shamus
(Univ. Louisville, KY, USA)
,
WALSH Kevin M
(Univ. Louisville, KY, USA)
,
FENG Philip X-L
(Case Western Reserve Univ. (CWRU), OH, USA)
,
HUTIN Louis
(Leti, CEA, Grenoble, FRA)
,
ERNST Thomas
(Leti, CEA, Grenoble, FRA)
,
HOMEIJER Brian D
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
POLCAWICH Ronald G
(Army Res. Lab., MD, USA)
,
PROIE Robert M
(Army Res. Lab., MD, USA)
,
JONES Jacob L
(North Carolina State Univ., NC, USA)
,
GLASER Evan R
(Naval Res. Lab., Washington, DC, USA)
,
CRESS Cory D
(Naval Res. Lab., Washington, DC, USA)
,
BASSIRI-GHARB Nazanin
(Georgia Inst. of Technol., GA, USA)
資料名：
Semiconductor Science and Technology
(Semiconductor Science and Technology)
巻： 32 号： 1 ページ： 013005,1-14 発行年： 2017年01月
JST資料番号： E0503B ISSN： 0268-1242 CODEN： SSTEET 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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