文献
J-GLOBAL ID:201702256916813785
整理番号:17A0240771
低電力回路の試験:課題と産業への適用【Powered by NICT】
Test of low power circuits: Issues and industrial practices
著者 (3件):
Bosio A.
(LIRMM - University of Montpellier / CNRS, Montpellier, France)
,
Girard P.
(LIRMM - University of Montpellier / CNRS, Montpellier, France)
,
Virazel A.
(LIRMM - University of Montpellier / CNRS, Montpellier, France)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICECS
ページ:
524-527
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)