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文献
J-GLOBAL ID：201702257212292009
整理番号：17A0142325
抵抗変化型不揮発性メモリ特性評価のためのFPGAに基づく操作システム【Powered by NICT】
An FPGA-based manipulation system for ReRAM characterization
Xing Jinling
(College of Electronic Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, P. R. China)
,
Li Qingjiang
(College of Electronic Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, P. R. China)
,
Li Jiwei
(College of Electronic Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, P. R. China)
,
Wang Wei
(College of Electronic Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, P. R. China)
,
Liu Haijun
(College of Electronic Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, P. R. China)
,
Xu Hui
(College of Electronic Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, P. R. China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： 3M-NANO ページ： 31-34 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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