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文献
J-GLOBAL ID：201702257286731520
整理番号：17A0747981
2D線特徴の粗さを特性化するための方法:再結晶境界【Powered by NICT】
A method to characterize the roughness of 2-D line features: recrystallization boundaries
SUN J.
(Section for Materials Science and Advanced Characterization, Department of Wind Energy, Technical University of Denmark, Riso Campus, Roskilde, Denmark)
,
ZHANG Y.B.
(Section for Materials Science and Advanced Characterization, Department of Wind Energy, Technical University of Denmark, Riso Campus, Roskilde, Denmark)
,
DAHL A.B.
(Section for Image Analysis and Computer Graphics, Department of Applied Mathematics and Computer Science, Technical University of Denmark, Lyngby, Denmark)
,
CONRADSEN K.
(Section for Image Analysis and Computer Graphics, Department of Applied Mathematics and Computer Science, Technical University of Denmark, Lyngby, Denmark)
,
JUUL JENSEN D.
(Section for Materials Science and Advanced Characterization, Department of Wind Energy, Technical University of Denmark, Riso Campus, Roskilde, Denmark)
資料名：
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻： 265 号： 3 ページ： 313-321 発行年： 2017年
JST資料番号： B0454B ISSN： 0022-2720 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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