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文献
J-GLOBAL ID：201702257778010270
整理番号：17A0852601
BTI関連パラメータの統計的特性化のためのスケーラブルなデバイスアレイ【Powered by NICT】
Scalable Device Array for Statistical Characterization of BTI-Related Parameters
Awano Hiromitsu
(VLSI Design and Education Center, University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Morita Shumpei
(Department of Communications and Computer Engineering, Kyoto University, Kyoto, Japan)
,
Sato Takashi
(Department of Communications and Computer Engineering, Kyoto University, Kyoto, Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻： 25 号： 4 ページ： 1455-1466 発行年： 2017年
JST資料番号： W0516A ISSN： 1063-8210 CODEN： ITCOB4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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