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文献
J-GLOBAL ID：201702258061147952
整理番号：17A0594650
収差補正走査透過型電子顕微鏡によるパイロクロアのイオントラック形態に関する新しい洞察
New insights on ion track morphology in pyrochlores by aberration corrected scanning transmission electron microscopy
SACHAN Ritesh
(Oak Ridge National Lab., TN)
,
ZHANG Yanwen
(Oak Ridge National Lab., TN)
,
ZHANG Yanwen
(Univ. Tennessee, TN)
,
OU Xin
(Helmholtz-Zentrum Dresden-Rassendorf, Dresden, DEU)
,
TRAUTMANN Christina
(GSI Helmholtzzentrum fuer Schwerionenforschung GmbH, Darmstadt, DEU)
,
TRAUTMANN Christina
(Technische Univ. Darmstadt, Darmstadt, DEU)
,
CHISHOLM Matthew F.
(Oak Ridge National Lab., TN)
,
WEBER William J.
(Oak Ridge National Lab., TN)
,
WEBER William J.
(Univ. Tennessee, TN)
資料名：
Journal of Materials Research
(Journal of Materials Research)
巻： 32 号： 5 ページ： 928-935 発行年： 2017年03月14日
JST資料番号： D0987B ISSN： 0884-2914 CODEN： JMREEE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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