文献
J-GLOBAL ID:201702258301921043
整理番号:17A0757224
Pバックトラッキング:確率を用いた新しいスキャン連鎖診断法【Powered by NICT】
P-backtracking: A new scan chain diagnosis method with probability
著者 (3件):
Kim Tae Hyun
(Yonsei University, Electrical and Electronic Engineering, Seoul, Korea, republic of)
,
Lim Hyun Yul
(Yonsei University, Electrical and Electronic Engineering, Seoul, Korea, republic of)
,
Kang Sungho
(Yonsei University, Electrical and Electronic Engineering, Seoul, Korea, republic of)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ISOCC
ページ:
141-142
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)