文献
J-GLOBAL ID:201702258496251963
整理番号:17A1671906
SiC厚膜の急速エピタキシャル成長エッチングプロセスを研究した。【JST・京大機械翻訳】
Effect of etching process on fast-epitaxial SiC thick films
著者 (4件):
Mao Kaili
(西安理工大学 材料科学与工程学院,西安 710048; 中国電子科技集団公司第二研究所,太原 030024)
,
Wang Yingmin
(中国電子科技集団公司第二研究所,太原,030024)
,
Li Bin
(中国電子科技集団公司第二研究所,太原,030024)
,
Zhao Gaoyang
(西安理工大学 材料科学与工程学院,西安,710048)
資料名:
Gongneng Cailiao
(Gongneng Cailiao)
巻:
48
号:
1
ページ:
1139-1143
発行年:
2017年
JST資料番号:
C2095A
ISSN:
1001-9731
CODEN:
GOCAEA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
中国 (CHN)
言語:
中国語 (ZH)