文献
J-GLOBAL ID:201702258676890799
整理番号:17A0124413
シングルイベントアップセット硬さに及ぼす全線量の相乗効果におけるパターン依存性【Powered by NICT】
Pattern dependence in synergistic effects of total dose on single-event upset hardness
著者 (7件):
Guo Hongxia
(Northwest Institute of Nuclear Technology)
,
Ding Lili
(Northwest Institute of Nuclear Technology)
,
Xiao Yao
(Northwest Institute of Nuclear Technology)
,
Zhang Fengqi
(Northwest Institute of Nuclear Technology)
,
Luo Yinhong
(Northwest Institute of Nuclear Technology)
,
Zhao Wen
(Northwest Institute of Nuclear Technology)
,
Wang Yuanming
(Northwest Institute of Nuclear Technology)
資料名:
Chinese Physics B
(Chinese Physics B)
巻:
25
号:
9
ページ:
096109-1-096109-5
発行年:
2016年
JST資料番号:
W1539A
ISSN:
1674-1056
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
中国 (CHN)
言語:
英語 (EN)