文献
J-GLOBAL ID:201702258818550725
整理番号:17A1478168
ZnSb:0.1at%Cu熱電変換素子の最適動作温度範囲と寿命予測
Optimum Operating-Temperature Range and Lifetime Estimate for ZnSb:0.1 at % Cu Thermoelectrics
著者 (4件):
PROKOFIEVA L. V.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
NASREDINOV F. S.
(Peter the Great St. Petersburg Polytechnic Univ., St. Petersburg, RUS)
,
KONSTANTINOV P. P.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
SHABALDIN A. A.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
資料名:
Semiconductors
(Semiconductors)
巻:
51
号:
8
ページ:
1012-1016
発行年:
2017年08月
JST資料番号:
T0093A
ISSN:
1063-7826
CODEN:
SMICES
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)