文献
J-GLOBAL ID:201702258853324912
整理番号:17A0143857
材料変動の非接触検出のためのマイクロ波近接場センサ【Powered by NICT】
Microwave near-field sensor for the contactless detection of material fluctuations
著者 (5件):
Hattenhorst Birk
(Institute of Electronic Circuits, Ruhr-University Bochum, Bochum 44801, Germany)
,
Baer Christoph
(Institute of Electronic Circuits, Ruhr-University Bochum, Bochum 44801, Germany)
,
Musch Thomas
(Institute of Electronic Circuits, Ruhr-University Bochum, Bochum 44801, Germany)
,
Schulz Christian
(Institute of Microwave Systems, Ruhr-University Bochum, Bochum 44801, Germany)
,
Rolfes Ilona
(Institute of Microwave Systems, Ruhr-University Bochum, Bochum 44801, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
EuMC
ページ:
512-515
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)