文献
J-GLOBAL ID:201702258855145380
整理番号:17A1999387
実験的自己放電と負荷サイクル試験下におけると電圧等化回路(s)を伴わない「2細胞のスーパーキャパシタモジュールの劣化効果の比較【Powered by NICT】
Comparing the degradation effect of a ‘two-cell’ Supercapacitor-module with and without voltage equalization circuit(s) under experimental self-discharge and load cycling tests
著者 (3件):
Ahmad Abubakar Hadiza
(The University of Nottingham Malaysia campus, Malaysia)
,
Isa Dino
(The University of Nottingham Malaysia campus, Malaysia)
,
Wan Wong Yee
(The University of Nottingham Malaysia campus, Malaysia)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
79
ページ:
140-148
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)