文献
J-GLOBAL ID:201702258963778724
整理番号:17A0666052
ハイブリッドFinFETの性能マトリックスに及ぼすフィン高さおよびフィン角変動の影響【Powered by NICT】
Impact of Fin Height and Fin Angle Variation on the Performance Matrix of Hybrid FinFETs
著者 (4件):
Pradhan Kumar Prasannajit
(Department of Electrical Engineering, Nano-Electronics Laboratory, National Institute of Technology, Rourkela, India)
,
Saha Samar K.
(Prospicient Devices, Milpitas, CA, USA)
,
Sahu Prasanna Kumar
(Department of Electrical Engineering, Nano-Electronics Laboratory, National Institute of Technology, Rourkela, India)
,
Priyanka
(Department of Electrical Engineering, Nano-Electronics Laboratory, National Institute of Technology, Rourkela, India)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
64
号:
1
ページ:
52-57
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)