文献
J-GLOBAL ID:201702259160272299
整理番号:17A1406649
生産ラインにおけるウェハレベルのフリップチップ型LEDダイの測定における隣接ダイの影響
Neighbour-die effect on the measurement of wafer-level flip-chip LED dies in production lines
著者 (3件):
CHEN Tengfei
(Huazhong Univ. Sci. and Technol., Wuhan, CHN)
,
WAN Zirui
(Huazhong Univ. Sci. and Technol., Wuhan, CHN)
,
LI Bin
(Huazhong Univ. Sci. and Technol., Wuhan, CHN)
資料名:
Journal of Modern Optics
(Journal of Modern Optics)
巻:
64
号:
19-21
ページ:
2141-2148
発行年:
2017年11月20日
JST資料番号:
D0250A
ISSN:
0950-0340
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)