文献
J-GLOBAL ID:201702259470757796
整理番号:17A1268151
EMTPを用いた電圧サグの原因の解析とシミュレーション【Powered by NICT】
Analysis and simulation of causes of voltage sags using EMTP
著者 (3件):
Tien Dung Vo
(VSB-TUO Technical University of Ostrava, Ostrava, Czech Republic)
,
Gono Radomir
(VSB-TUO Technical University of Ostrava, Ostrava, Czech Republic)
,
Leonowicz Zbigniew
(Wroclaw University of Science and Technology, Wroclaw, Poland)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EEEIC / I&CPS Europe
ページ:
1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)