文献
J-GLOBAL ID:201702259511402483
整理番号:17A1125326
TCADシミュレーションのための界面トラップパラメータを抽出するための効率的な方法論【Powered by NICT】
Efficient methodology to extract interface traps parameters for TCAD simulations
著者 (5件):
Couso C.
(Universitat Autonoma de Barcelona, Dept. Enginyeria Electronica Edifici Q, 08193 Bellaterra, Spain)
,
Martin-Martinez J.
(Universitat Autonoma de Barcelona, Dept. Enginyeria Electronica Edifici Q, 08193 Bellaterra, Spain)
,
Porti M.
(Universitat Autonoma de Barcelona, Dept. Enginyeria Electronica Edifici Q, 08193 Bellaterra, Spain)
,
Nafria M.
(Universitat Autonoma de Barcelona, Dept. Enginyeria Electronica Edifici Q, 08193 Bellaterra, Spain)
,
Aymerich X.
(Universitat Autonoma de Barcelona, Dept. Enginyeria Electronica Edifici Q, 08193 Bellaterra, Spain)
資料名:
Microelectronic Engineering
(Microelectronic Engineering)
巻:
178
ページ:
66-70
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0406B
ISSN:
0167-9317
CODEN:
MIENEF
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)