文献
J-GLOBAL ID:201702259747353920
整理番号:17A1135820
プラズマ軟X線レーザの偏光解析のための多層コーティングフォトダイオードに基づくビーム強度モニター
Multilayer-coated photodiode-based beam intensity monitor for polarization analysis of plasma soft X-ray laser
著者 (1件):
IMAZONO Takashi
(National Inst. for Quantum and Radiological Sci. and Technol., Kyoto, JPN)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
56
号:
21
ページ:
5824-5829
発行年:
2017年07月20日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)