前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201702259988506345
整理番号：17A0362467
VLSIの時間-周波数スキャンのための自動プロセス【Powered by NICT】
Automatic process for time-frequency scan of VLSI
Boscaro A.
(Le2i, UMR CNRS 6306, Univ. Bourgogne Franche-Comte, 9 Avenue Alain Savary, 21000 Dijon, France)
,
Boscaro A.
(Centre National d’Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse, France)
,
Jacquir S.
(Le2i, UMR CNRS 6306, Univ. Bourgogne Franche-Comte, 9 Avenue Alain Savary, 21000 Dijon, France)
,
Melendez K.
(Centre National d’Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse, France)
,
Sanchez K.
(Centre National d’Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse, France)
,
Perdu P.
(Centre National d’Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse, France)
,
Perdu P.
(Temasek Laboratories, Nanyang Technological University, 50 Nanyang Drive, Singapore)
,
Binczak S.
(Le2i, UMR CNRS 6306, Univ. Bourgogne Franche-Comte, 9 Avenue Alain Savary, 21000 Dijon, France)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 64 ページ： 299-305 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。