文献
J-GLOBAL ID:201702259993398659
整理番号:17A0335448
SiベースTHz波検出器の性能に及ぼす赤外プラズモンの影響
The effect of infrared plasmon on the performance of Si-based THz detectors
著者 (7件):
ZHU He
(Zhejiang Univ., Zhejiang, CHN)
,
XU Jintao
(Zhejiang Univ., Zhejiang, CHN)
,
ZHU Jiaqi
(Zhejiang Univ., Zhejiang, CHN)
,
WANG Miao
(Zhejiang Univ., Zhejiang, CHN)
,
WU Huizhen
(Zhejiang Univ., Zhejiang, CHN)
,
LI Ning
(Shanghai Inst. of Technical Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN)
,
DAI Ning
(Shanghai Inst. of Technical Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN)
資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻:
28
号:
1
ページ:
839-844
発行年:
2017年01月
JST資料番号:
W0003A
ISSN:
0957-4522
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)