文献
J-GLOBAL ID:201702260012687270
整理番号:17A0875350
構造安定性と(SiH)2O成形シロキセンシートの電子特性: 計算機による研究【Powered by NICT】
Structural stability and the electronic properties of a (SiH)2O-formed siloxene sheet: a computational study
著者 (2件):
Wang Yanli
(Department of Physics, Center for Optoelectronics Materials and Devices, Zhejiang Sci-Tech University, Xiasha College Park, Hangzhou, Zhejiang 310018, People’s Republic of China. wangyanli-04@tsinghua.org.cn)
,
Ding Yi
資料名:
Physical Chemistry Chemical Physics
(Physical Chemistry Chemical Physics)
巻:
19
号:
27
ページ:
18030-18035
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0271C
ISSN:
1463-9076
CODEN:
PPCPFQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)