文献
J-GLOBAL ID:201702260064272781
整理番号:17A0212812
110GHzオンウェーハトランジスタ測定のための改良されたミリ波一般カスケードデエンベッディング法【Powered by NICT】
An Improved Millimeter-Wave General Cascade De-Embedding Method for 110 GHz On-Wafer Transistor Measurements
著者 (3件):
Lee Chie-In
(Department of Electrical Engineering and Institute of Communications Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan)
,
Lin Wei-Cheng
(Department of Electrical Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan)
,
Lin Yan-Ting
(Department of Electrical Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan)
資料名:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
(IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing)
巻:
30
号:
1
ページ:
98-104
発行年:
2017年
JST資料番号:
T0521A
ISSN:
0894-6507
CODEN:
ITSMED
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)