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文献
J-GLOBAL ID：201702260450069663
整理番号：17A0400543
プロセス変動の下でのSRAMセルにおける抵抗性オープン欠陥を検出するためのハードウエア・ベースのアプローチの有効性【Powered by NICT】
Effectiveness of a hardware-based approach to detect resistive-open defects in SRAM cells under process variations
Gomez A.F.
(National Institute for Astrophysics, Optics and Electronics-INAOE, Mexico)
,
Lavratti F.
(Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul-PUCRS, Brazil)
,
Medeiros G.
(Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul-PUCRS, Brazil)
,
Sartori M.
(Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul-PUCRS, Brazil)
,
Poehls L. Bolzani
(Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul-PUCRS, Brazil)
,
Champac V.
(National Institute for Astrophysics, Optics and Electronics-INAOE, Mexico)
,
Vargas F.
(Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul-PUCRS, Brazil)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 67 ページ： 150-158 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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