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文献
J-GLOBAL ID：201702260603548622
整理番号：17A1484473
一般化発作検出のための可視性グラフを用いた発作パターンのEEG分析【Powered by NICT】
EEG analysis of seizure patterns using visibility graphs for detection of generalized seizures
Wang Lei
(Department of Electrical Engineering, Eindhoven University of Technology, Eindhoven, The Netherlands)
,
Wang Lei
(Epilepsy Center Kempenhaeghe, Heeze, The Netherlands)
,
Long Xi
(Department of Electrical Engineering, Eindhoven University of Technology, Eindhoven, The Netherlands)
,
Long Xi
(Philips Research, Eindhoven, The Netherlands)
,
Arends Johan B.A.M.
(Department of Electrical Engineering, Eindhoven University of Technology, Eindhoven, The Netherlands)
,
Arends Johan B.A.M.
(Epilepsy Center Kempenhaeghe, Heeze, The Netherlands)
,
Aarts Ronald M.
(Department of Electrical Engineering, Eindhoven University of Technology, Eindhoven, The Netherlands)
,
Aarts Ronald M.
(Philips Research, Eindhoven, The Netherlands)
資料名：
Journal of Neuroscience Methods
(Journal of Neuroscience Methods)
巻： 290 ページ： 85-94 発行年： 2017年
JST資料番号： A1129A ISSN： 0165-0270 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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