文献
J-GLOBAL ID:201702260721735170
整理番号:17A0703511
電気化学的にリチウム化シリコン薄膜の変形と破壊機構【Powered by NICT】
Deformation and failure mechanisms of electrochemically lithiated silicon thin films
著者 (5件):
Sitinamaluwa Hansinee
(School of Chemistry, Physics and Mechanical Engineering, Queensland University of Technology (QUT), Brisbane, QLD 4001, Australia. c2.yan@qut.edu.au)
,
Nerkar Jawahar
,
Wang Mingchao
,
Zhang Shanqing
,
Yan Cheng
資料名:
RSC Advances (Web)
(RSC Advances (Web))
巻:
7
号:
22
ページ:
13487-13497
発行年:
2017年
JST資料番号:
U7055A
ISSN:
2046-2069
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)