文献
J-GLOBAL ID:201702260844831931
整理番号:17A1250112
250MHz多サンプル補償器を用いた全ディジタル完全集積化誘導バックレギュレータと130nm CMOSにおける軽量自動チューナ【Powered by NICT】
An All-Digital Fully Integrated Inductive Buck Regulator With A 250-MHz Multi-Sampled Compensator and a Lightweight Auto-Tuner in 130-nm CMOS
著者 (5件):
Kar Monodeep
(Department of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
,
Singh Arvind
(Department of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
,
Rajan Anand
(Intel Corporation, Hillsboro, OR, USA)
,
De Vivek
(Intel Corporation, Hillsboro, OR, USA)
,
Mukhopadhyay Saibal
(Department of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)
資料名:
IEEE Journal of Solid-State Circuits
(IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻:
52
号:
7
ページ:
1825-1835
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0761A
ISSN:
0018-9200
CODEN:
IJSCBC
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)