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文献
J-GLOBAL ID:201702261171622734   整理番号:17A0852417

多重面内ゲートを有するプロトン伝導体横方向結合酸化物ベーストランジスタの神経形態学的シミュレーション【Powered by NICT】

Neuromorphic Simulation of Proton Conductors Laterally Coupled Oxide-Based Transistors With Multiple in-Plane Gates
著者 (6件):
Wan Xiang
(School of Electronic Science and Engineering, Collaborative Innovation Center of Advanced Microstructures, Nanjing University, Nanjing, China)
Yang Yi
(School of Electronic Science and Engineering, Collaborative Innovation Center of Advanced Microstructures, Nanjing University, Nanjing, China)
He Yongli
(School of Electronic Science and Engineering, Collaborative Innovation Center of Advanced Microstructures, Nanjing University, Nanjing, China)
Feng Ping
(School of Electronic Science and Engineering, Collaborative Innovation Center of Advanced Microstructures, Nanjing University, Nanjing, China)
Li Wenjun
(School of Electronic Science and Engineering, Collaborative Innovation Center of Advanced Microstructures, Nanjing University, Nanjing, China)
Wan Qing
(School of Electronic Science and Engineering, Collaborative Innovation Center of Advanced Microstructures, Nanjing University, Nanjing, China)

資料名:
IEEE Electron Device Letters  (IEEE Electron Device Letters)

巻: 38  号:ページ: 525-528  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0344B  ISSN: 0741-3106  CODEN: EDLEDZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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