文献
J-GLOBAL ID:201702261247079492
整理番号:17A1644211
マクロセル内のRF曝露の空間的変動のシミュレーション【Powered by NICT】
Simulation of spatial variations of RF exposure within a macrocell
著者 (3件):
Plets D.
(Information Technology Department, Ghent University/iMinds, Technologiepark 15, B-9052 Ghent, Belgium)
,
Joseph W.
(Information Technology Department, Ghent University/iMinds, Technologiepark 15, B-9052 Ghent, Belgium)
,
Martens L.
(Information Technology Department, Ghent University/iMinds, Technologiepark 15, B-9052 Ghent, Belgium)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
APUSNCURSINRSM
ページ:
1413-1414
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)