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文献
J-GLOBAL ID:201702261247079492   整理番号:17A1644211

マクロセル内のRF曝露の空間的変動のシミュレーション【Powered by NICT】

Simulation of spatial variations of RF exposure within a macrocell
著者 (3件):
Plets D.
(Information Technology Department, Ghent University/iMinds, Technologiepark 15, B-9052 Ghent, Belgium)
Joseph W.
(Information Technology Department, Ghent University/iMinds, Technologiepark 15, B-9052 Ghent, Belgium)
Martens L.
(Information Technology Department, Ghent University/iMinds, Technologiepark 15, B-9052 Ghent, Belgium)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: APUSNCURSINRSM  ページ: 1413-1414  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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