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文献
J-GLOBAL ID：201702261316616850
整理番号：17A0825271
Dフリップフロップのシングルイベントアップセット感度:130nm技術ノードにおけるバルクSiとPDSOIの比較【Powered by NICT】
Single Event Upset Sensitivity of D-Flip Flop: Comparison of PDSOI With Bulk Si at 130 nm Technology Node
Zhang Leqing
(State Key Laboratory of Functional Materials for Informatics, Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
,
Xu Jialing
(Shanghai Engineering Center for Microsatellites, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
,
Fan Shuang
(State Key Laboratory of Functional Materials for Informatics, Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
,
Dai Lihua
(State Key Laboratory of Functional Materials for Informatics, Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
,
Bi Dawei
(Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
,
Lu Jian
(Shanghai Engineering Center for Microsatellites, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
,
Hu Zhiyuan
(Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
,
Zhang Mengying
(State Key Laboratory of Functional Materials for Informatics, Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
,
Zhang Zhengxuan
(Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 64 号： 1 ページ： 683-688 発行年： 2017年
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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