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J-GLOBAL ID：201702261438037415 整理番号：17A0543260

LC共振を利用したSiC-MOSFETの寄生インダクタンスの評価方法

著者 (7件)：

昆野賢太郎

(東京工大)

中村悠太

(東京工大)

葛本昌樹

(東京工大)

赤木泰文

(東京工大)

椋木康滋

(三菱電機)

堀口剛司

(三菱電機)

中山靖

(三菱電機)

資料名：

電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM) (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan (CD-ROM))

巻： 2017 ページ： ROMBUNNO.4-007 発行年： 2017年03月05日
JST資料番号： S0653B 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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