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文献
J-GLOBAL ID:201702261526470084   整理番号:17A0445247

静電気力顕微鏡法を使用した多層グラフェンの固有仕事関数の推定【Powered by NICT】

Estimation of intrinsic work function of multilayer graphene by probing with electrostatic force microscopy
著者 (5件):
Singh Anshika
(Department of Applied Physics, Delhi Technological University, Delhi, 110042, India)
Guha Puspendu
(Institute of Physics, Sachivalaya Marg, Bhubaneswar, 751005, India)
Guha Puspendu
(Homi Bhabha National Institute, Training School Complex, Anushakti Nagar, Mumbai, 400085, India)
Panwar Amrish K.
(Department of Applied Physics, Delhi Technological University, Delhi, 110042, India)
Tyagi Pawan K.
(Department of Applied Physics, Delhi Technological University, Delhi, 110042, India)

資料名:
Applied Surface Science  (Applied Surface Science)

巻: 402  ページ: 271-276  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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