文献
J-GLOBAL ID:201702261531743583
整理番号:17A1723154
多孔質シリコンセンサアレイの測定のための光学的レイアウト【Powered by NICT】
Optical layout for the measurement of a porous silicon sensor array
著者 (6件):
Hulker Tanya
(Department of Chemistry, University of Cambridge, Lensfield Road, Cambridge CB2 1EW, UK)
,
Wellio Gilmore
(Department of Chemistry, University of Cambridge, Lensfield Road, Cambridge CB2 1EW, UK)
,
Chan Joanna
(Department of Chemistry, University of Cambridge, Lensfield Road, Cambridge CB2 1EW, UK)
,
Kellarev Alexander V.
(Department of Chemistry, University of Cambridge, Lensfield Road, Cambridge CB2 1EW, UK)
,
Elliott Stephen R.
(Department of Chemistry, University of Cambridge, Lensfield Road, Cambridge CB2 1EW, UK)
,
Ruschin Shlomo
(School of Electrical Engineering, Tel-Aviv University, Tel-Aviv 69978 Israel)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CLEO/Europe-EQEC
ページ:
1
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)