文献
J-GLOBAL ID:201702261675336322
整理番号:17A1026116
ドーパントが含まれていないCMOSのための電気的に再構成可能なデュアル金属ゲート平面電界効果トランジスタの作製とシミュレーション【Powered by NICT】
Fabrication and simulation of electrically reconfigurable dual metal-gate planar field-effect transistors for dopant-free CMOS
著者 (3件):
Krauss Tillmann
(Institute for Semiconductor Technology and Nanoelectronics, Technische Universitaet Darmstadt, Germany)
,
Wessely Frank
(Institute for Semiconductor Technology and Nanoelectronics, Technische Universitaet Darmstadt, Germany)
,
Schwalke Udo
(Institute for Semiconductor Technology and Nanoelectronics, Technische Universitaet Darmstadt, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
DTIS
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)