文献
J-GLOBAL ID:201702262306289508
整理番号:17A1722472
ソフトウェア欠陥予測のための特徴選択を用いた統合化サンプリング法の結合【Powered by NICT】
Combining integreted sampling technique with feature selection for software defect prediction
著者 (2件):
Putri Sukmawati Anggraeni
(STMIK Nusa Mandiri, Information System Program, Jakarta, Indonesia)
,
Frieyadie
(AMIK BSI Jakarta, Management Informatic Program, Jakarta, Indonesia)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CITSM
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)