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文献
J-GLOBAL ID：201702262551054440
整理番号：17A0701767
応答曲面法(RSM)による安定同位体のSIMS分析の機器的質量分別(IMF)の予測【Powered by NICT】
Predicting instrumental mass fractionation (IMF) of stable isotope SIMS analyses by response surface methodology (RSM)
Fabrega C.
(Departament d’Enginyeria Minera, Industrial i TIC, Escola Politecnica Superior d’Enginyeria de Manresa (UPC - Campus Manresa), Av. Bases de Manresa, 61-73, 08242, Manresa, Spain. dparcerisa@epsem.upc.edu)
,
Parcerisa D.
,
Rossell J. M.
,
Gurenko A.
,
Franke C.
資料名：
Journal of Analytical Atomic Spectrometry
(Journal of Analytical Atomic Spectrometry)
巻： 32 号： 4 ページ： 731-748 発行年： 2017年
JST資料番号： C0770C ISSN： 0267-9477 CODEN： JASPE2 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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