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文献
J-GLOBAL ID：201702262597608015
整理番号：17A1088308
ミクロンスケールのフィン幅を持つGaNフィン-HEMTsの研究
Investigation of GaN Fin-HEMTs with Micron-scale Fin Width
CHANG Li-Cheng
(National Taiwan Univ., Taipei, TWN)
,
YANG Ming
(National Taiwan Univ., Taipei, TWN)
,
JIANG Yi-Hong
(National Taiwan Univ., Taipei, TWN)
,
WU Chao-Hsin
(National Taiwan Univ., Taipei, TWN)
資料名：
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻： 10104 ページ： 101041F.1-101041F.6 発行年： 2017年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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