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文献
J-GLOBAL ID：201702262619511504
整理番号：17A0776080
赤外イメージングを用いた製造プロセス中のシリコン太陽電池のシャントを監視するための効率的な方法【Powered by NICT】
An efficient method for monitoring the shunts in silicon solar cells during fabrication processes with infrared imaging
Zhang Lucheng
(Institute for Solar Energy Systems, Sun Yat-Sen University)
,
Xu Xinxiang
(China Southern Glass Holding PVTech Co. Ltd.)
,
Yang Zhuojian
(Institute for Solar Energy Systems, Sun Yat-Sen University)
,
Sun Xiaopu
(China Southern Glass Holding PVTech Co. Ltd.)
,
Xu Hongyun
(China Southern Glass Holding PVTech Co. Ltd.)
,
Liu Haobin
(China Southern Glass Holding PVTech Co. Ltd.)
,
Shen Hui
(Institute for Solar Energy Systems, Sun Yat-Sen University)
資料名：
Journal of Semiconductors
(Journal of Semiconductors)
巻： 30 号： 7 ページ： 150-153 発行年： 2009年
JST資料番号： C2377A ISSN： 1674-4926 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 中国 (CHN) 言語： 英語 (EN)
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