文献
J-GLOBAL ID:201702262654088853
整理番号:17A1185996
電界放出銃電子顕微鏡のための抽出電圧を用いた位相コントラストの可視性の推定【Powered by NICT】
Estimation of visibility of phase contrast with extraction voltages for field emission gun electron microscopes
著者 (1件):
Meng Xing
(WsystemSolution, P.O.Box 3300 Latham, 12110-9998 NY, United States)
資料名:
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻:
173
ページ:
14-15
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0972A
ISSN:
0304-3991
CODEN:
ULTRD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)